粉塵檢測技術(shù)

粉塵檢測技術(shù)

TSI AM510粉塵儀

粉塵檢測是以科學(xué)的方法對生產(chǎn)環(huán)境空氣中粉塵的含量及其物理化學(xué)性狀進行測定、分析和檢查的工作。從安全和衛(wèi)生學(xué)的角度出發(fā)，日常的粉塵檢測項目主要是粉塵濃度、粉塵中游離二氧化硅含量和粉塵分散度也稱為粒度分布的檢測。

1.粉塵濃度測定

礦的粉塵濃度測定主要有濾膜測塵法和快速直讀測塵儀測定法。
濾膜測塵法。測塵原理是用粉塵采樣器或呼吸性粉塵采樣器抽取采集一定體積的含塵空氣，含塵空氣通過濾膜時，粉塵被捕集在濾膜上，根據(jù)濾膜的增重計算出粉塵濃度。
快速直讀測塵儀測塵法。用濾膜采樣器測塵是一種間接測量粉塵濃度的方法，由于準備工作，粉塵采樣和樣品處理時間比較長，不能立即得到結(jié)果，在衛(wèi)生監(jiān)督和評價防塵措施效果時顯得不方便。為了滿足這方面工作特點的需要，各國研制開發(fā)了可以立即獲得粉塵濃度的快速測定儀。

2.粉塵游離二氧化硅的測定

國家標準中規(guī)定的測定方法是焦磷酸質(zhì)量法，也有用紅外分光光度計測定法進行測定。
焦磷酸質(zhì)量法。在245～250 ℃的溫度下，焦磷酸能溶解硅酸鹽及金屬氧化物，對游離二氧化硅幾乎不溶。因此，用焦磷酸處理粉塵試樣后，所得殘渣的質(zhì)量即為游離二氧化硅的量，以百分比表示。為了求得更的結(jié)果，可將殘渣再用氫氟酸處理，經(jīng)過這一過程所減輕的質(zhì)量則為游離二氧化硅的含量。

紅外分光分析法。當紅外光與物質(zhì)相互作用時，其能量與物質(zhì)分子的振動或轉(zhuǎn)動能級相當時會發(fā)生能級的躍遷，即分子電低能級過渡到高能級。其結(jié)果是某些波長的紅外光被物質(zhì)分子吸收產(chǎn)生紅外吸收光譜。游離二氧化硅的吸收光譜的波數(shù)為800cm—1、780cm—1、694cm—1相當于波長為12．5μm、12．8μm、14．4μm。

粉塵分散度的測定。粉塵分散度分為數(shù)量分散度和質(zhì)量分散度。前者是針對具有代表性的一定數(shù)量的樣品逐個測定其粒徑的方法。其測定方法主要有顯微鏡法、光散射法等。測得的是各級粒子的顆粒百分數(shù)。后者是以某種手段把粉塵按一定粒徑范圍分級，然后稱取各部分的質(zhì)量，求其粒徑分布，常采用離心、沉降或沖擊原理將粉塵按粒徑分級，測出的是各級粒子的質(zhì)量百分數(shù)。